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PPK】CPK和PPK在SPC中的区别是什么？
PPK】CPK和PPK在SPC中的区别是什么？
关键词:CPK PPK
导语：在一般的QS9000或TS16949推行过程中，PPK用来表示短期能力指数，CPK用来表示长期能力指数，那二者具体的区别又有哪些呢？
CPK是Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。制程能力强才可能生产出质量、可靠性高的产品。 而PPK是SPC中控制图中用来计算工序能力或叫过程能力的指数，是指考虑过程有偏差时，样本数据的过程性能。CPK和PPK在SPC中的区别是什么？下面我们来做介绍：
图示：CPK和PPK在SPC中的区别是什么？
的区别有以下几个方面：
1、CPK 主要是子组间的变差产生，所以数据要分组，也就是说，采值是进行分组，涉及到子组，子组容量，采值频次等。它针对的是一个长期的过程。做CPK时，过程要求受控。
2、PPK是整体变差的影响，它不考虑采值的过程，可以连续采值也可以间断采值。
3、PPK的评价过程是稳定过程，PPK可以不是稳定的过程；CPK的样本容量是30~50，PPK的样本容量是大于或等于100；CPK评价的是单批（几小时 或几天），PPK评价的是多批（几周或几个月）。CPK=1.33（1.5的偏离）是4&的水平，合格率达到99.379%。根据PPAP手册在汽车行业 量产阶段CPK的接受准则是&1.67。但&1.33表示目前尚可接受，需要改进 。
4、CPK---过程能力指数（短期的）
5、PPK---过程性能指数（长期的）
6、PPK，是进入大批量生产前，对小批生产的能力评价，一般要求&1.67；而CPK，是进入大批量生产后，为保证批量生产下的产品的品质状况不至于下 降，且为保证与小批生产具有同样的控制能力，所进行的生产能力的评价，一般要求&1.33；一般来说，CPK需要借助PPK的控制界限来作控制。
如果以上的描述过于深奥，我们可以换句话来理解：CPK是潜在的过程能力，考察的是稳定状态下，即仅存在普通变异的过程能力指数，它考察的是组内数据的波动。适用于稳定过程，&的估计值是依据子组内的变差，确定的(R/d2或S/c4），仅包含普通原因的变异，不包含特殊原因和组间变差。而PPK是整体过程能力，不仅考察组内变异，而且考虑组间变异，适用于非稳定状态下的过程能力。&的估计值是依据所有单个样本数据的标准偏差确定的，包含了普通原因和特殊原因及子组间的变异。所以一般来说PPK会比CPK小。
Copyright & 2011InfinityQS International, Inc. 京ICP 备号关于统计中的CPK、SPC、6sigma、8D、QC7tool谁能帮忙解释一下及怎么用,_百度作业帮
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SPC即统计过程控制（StatisticalProcessControl）.主要是指应用统计分析技术对生产过程进行实时监控;Cpk是英文Process Capability index缩写,工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力6 Sigma是一种商业流程,企业通过设计、监视其每日商业活动而显著提高其底线收益,将资源的浪费降至最少,同时提高顾客满意度；8D用于监控解决问题的过程,它不是一个详尽的报告或复杂的分析,描述工具,而是一个包含了解决问题的每个步骤的集合,因而可从其中找到经提炼的基本信息；QC7tool就是QC 7 大手法 ( QC 7 tools )、 品管圈 ( Quality Control Circle、 QCC )、零缺点 ( Zero Defect、 ZD )、全面品 质控制 ( Total Quality Control）
管制图、SPC与六西格玛三者有什么区别太友SPC在线
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统计过程控制与评价：Cpk/SPC和PPM技术
作者：贾新章
出版：电子工业出版社
统计过程控制与评价：Cpk/SPC和PPM技术《统计过程控制与评价（Cpk\SPC和PPM技术）》介绍了如何对电子元器件生产过程进行统计质量控制，包括实施SPC技术、基本概念和方法，对元器件生产过程应用SPC技术等技术时出现的特殊问题和解决办法等内容。本书是“电子元器件质量与可靠性技术”丛书之一，重点阐述在生产过程中如何控制和评价电子元器件的内在质量和可靠性。近20年来，在保证和评价元器件质量与可靠性的观念和方法方面均发生了很大的变化，不但要对产品进行常规测试和试验，而且要求生产厂家采用SPC技术、CPK技术和PPM技术，保证产品是在统计受控的情况下由高水平生产线生产的，具有较高的内在质量和可靠性。为了有助于在我国元器件生产研制厂、所及使用单位有效地推广和应用SPC技术、CPK技术和PPM技术，我们在前几年多次举办学习班的基础上，对讲稿进行修改，编写了本书。
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摘要：为了了解工序在稳定状态下的实际加工能力，即在操作者、机器设备、原材料、操作方法、测量方法和环境等标准条件下，工序呈稳定状态时所具有的加工精度,这时我们一般会通过CP、、PP以及PPK等参数作为一个评断标准.
Cp：过程能力，仅适用于统计稳定过程，是过程在受控状态下的实际加工能力，不考虑过程的偏移，是过程固有变差（仅由于普通原因产生的变差）的 6σ范围，式中σ通常用 R-bar/d2或者s-bar/c4来估计。所以过程能力是用过程在受控状态下短期数据计算的。因此又将过程能力称为“短期过程能力”，实际中常将短期省略。这个指数只是针对双边公差而计算的，对于单边公差没有意义。计算公式为:CP=(USL-LSL)/ 6σ.
CPK：过程能力指数，是在过程有偏移情况下的过程能力，前提是要过程稳定且数据是正态分布，而且数据应该在 25组以上（建议最少不要低于 20组，数据组越少风险越大），只考虑过程受普通原因的影响。因为过程只受到普通原因变差影响是理想状态下的，从长期来说过程总会受到各种特殊原因的影响，所以又被称为短期过程能力，也叫潜在过程能力。CPK通过 CPU或 CPL的最小值来计算，计算公式:CPU=(USL-X-bar)/3σ和 CPL=(X-bar-LSL)/3σ.也可以直接利用太友科技来计算(免费),特点:
•简单方便地进行CPK的计算；
•方便地输入需要进行计算CPK的数据；
•也可从其它文件中复制数据到CPK分析工具中，如从电子表格中复制数据；
•分析数据文件可方便地保存，需要时可直接打开进行计算；
•可对分析数据导出打印功能等.
Pp：过程性能，是过程长期运行的实际加工能力，过程总变差（由子组内和子组间二种变差所引起的变化，如果过程处于不受控状态，过程总变差将包括特殊原因和普通原因）的 6σ范围，式中 σ通常用则称x服从均数为μ，标准差为σ2的正态分布。样本的标准差
s来估计。此时不考虑过程是否受控。因此过程性能也称长期过程能力，也叫性能指数。计算公式
Pp=(USL-LSL)/6s
：过程性能指数，因为计算不需要过程稳定（因为在计算公式中已经考虑了普通和特殊两种原因的影响），所以在 PPAP手册中要求在产品进行试生产过程不稳定时（此时过程受两种原因影响）用 PPPK衡量过程能力，要求PPK&=1.67 才能进入量产阶段，所以又把PPK称为初期能力指数。PPK通过 PPU或 PPL的最小值来计算，计算公式 PPU=(USL-X-bar)/3s和 PPL=(X-bar-LSL)/3s
很多公司由于对的一知半解，往往只要求计算CPK的指数来衡量过程能力是否足够，事实上进入正常生产后应该通过 Cp\CPK\PPK三个指数之间的差别来判断过程是否有问题，如果有问题是管理上还是技术上有问题，Cp&1.33表明过程变差比较小，此时还要看CPK,当Cp和CPK相差很大时表明过程有较大的偏移,需要做居中处理，再比较 CPK和 PPK，如果两者相差不大表明受特殊因素的影响小，如果两者相差很大表明受特殊因素的影响很大，特殊因素的影响往往比较容易找到。如果 Cp值本身就很小那说明过程受普通因素的变差影响大，此时若想提升过程能力往往需要更多的投入和更高的决策才能使问题得到解决。所以即使有时候
CPK值很高( 比如大于
2) ,如果其与 Cp\PPK相差较大的话还是需要对过程进行改进。
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